Force spectroscopy with a small dithering of AFM tip: A method of direct and continuous measurement of the spring constant of single molecules and molecular complexes
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thumb|350px|Le premier microscope à force atomique du monde, au musée de la Science de Londres. Le microscope à force atomique (AFM pour atomic force microscope) est un type de microscope à sonde locale permettant de visualiser la topographie de la surface d'un échantillon. Inventé en 1985, par Gerd Binnig, Calvin Quate et Christoph Gerber, ce type de microscopie repose essentiellement sur l'analyse d'un objet point par point au moyen d'un balayage via une sonde locale, assimilable à une pointe effilée.
Force spectroscopy is a set of techniques for the study of the interactions and the binding forces between individual molecules. These methods can be used to measure the mechanical properties of single polymer molecules or proteins, or individual chemical bonds. The name "force spectroscopy", although widely used in the scientific community, is somewhat misleading, because there is no true matter-radiation interaction.