Publication

TEM characterization of textured silicon heterojunction solar cells

Christophe Ballif, Aïcha Hessler-Wyser, Christian Monachon
2008
Discussion par affiche

Résumé

The usefulness of Transmission Electron Microscopy (TEM) for the fabrication of high-performance textured amorphous/crystalline silicon (a-Si:H/c-Si) heterojunction (HJ) solar cells is demonstrated. The classical characterization techniques used to monitor the a-Si:H layers properties incorporated into flat HJ solar cells with high open-circuit voltages up to VOC=710 mV and electrical conversion efficiencies up to

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/record/146539?ln=fr

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Electrical Losses Mitigation in Silicon Heterojunction Solar Cells

Implementation and understanding of p plus fired rear hole selective tunnel oxide passivating contacts enabling > 22% conversion efficiency in p-type c-Si solar cells

Potential Induced Degradation Mechanism in Rear-Emitter Bifacial Silicon Heterojunction Solar Cells Encapsulated in Different Module Structures

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