Êtes-vous un étudiant de l'EPFL à la recherche d'un projet de semestre?
Travaillez avec nous sur des projets en science des données et en visualisation, et déployez votre projet sous forme d'application sur GraphSearch.
This article presents a design-for-test methodology for embedded memories. The methodology relies on a fully random fault model of post-fabrication errors, which results in a low-overhead test strategy. The methodology's effectiveness is demonstrated on an embedded system with faulty memories.
Chargement
Chargement
Aucun résultat