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Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
Explore les fondamentaux de la microscopie à sonde à balayage, les types de pointes et les modes AFM pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.
Couvre la théorie atomique, l'équation de Schrödinger, les nombres quantiques, les configurations d'électrons et les propriétés périodiques des éléments.
Explore les lasers à électrons libres, couvrant les sources de lumière, la brillance, les sources de rayons X, les modes FEL et les exigences de faisceau d'électrons.
Couvre la métrologie à l'échelle nanométrique, la microscopie optique, la microscopie à force atomique, la microscopie électronique et la redéfinition des unités.
Explore les nombres magiques dans les nanoparticules, les mécanismes de croissance des couches minces et le courant tunnel dans les configurations STM.
Plonge dans la manipulation de la lumière, la mécanique quantique, la nanofabrication, et des applications comme les écrans LED avec des nanoparticules.
Présente des expériences de métrologie pratiques, couvrant des sujets tels que la métrologie quantique, les expériences à photons uniques et l'AFM pour les mesures nanométriques.
