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Couvre les principes, les applications et les composants de la microscopie électronique à transmission (TEM), y compris les modes d'imagerie et les techniques avancées.
Couvre les techniques de microscopie électronique, les composants et les applications, y compris le développement historique, la correction des aberrations de la lentille et l'interaction des électrons avec la matière.
Se concentre sur la suppression des barrières d'interopérabilité dans les logiciels AEC à travers des connecteurs open-source, montrant l'intégration des modèles BIM dans des environnements 3D immersifs.
Explore la microscopie électronique à transmission à haute résolution pour l'imagerie de la structure cristalline, couvrant les aberrations, les valeurs de défocalisation, les correcteurs CS et les techniques avancées.
