Microscopie électronique de transmission: bases

Cette séance de cours présente les bases de la microscopie électronique de transmission (TEM), en se concentrant sur les principes, les applications et les composants des instruments TEM. Il couvre des sujets tels que l'énergie du faisceau d'électrons, la préparation des échantillons, les modes d'imagerie et les interactions entre les électrons et les échantillons. La séance de cours traite également de l'importance des corrections d'aberrations de lentilles, de la résolution, du grossissement et de la profondeur de champ en imagerie TEM. En outre, il explore des techniques avancées telles que la haute tension TEM (HT-TEM) et la numérisation TEM (STEM) pour l'analyse de surface. Dans l’ensemble, la séance de cours fournit un aperçu complet de la TEM, de ses capacités et de son importance dans divers domaines scientifiques.