Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.
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Couvre les bases de l'acquisition d'images, y compris les dispositifs optiques, les facteurs de résolution, les distorsions de la lentille et les technologies de capteur.
Explore la formation d'images HRTEM par l'interférence de faisceaux transmis et diffractés, couvrant la fonction de transfert de contraste, la correction des aberrations et les techniques de récupération de phase.
Explore le contraste de phase en microscopie électronique à transmission, en se concentrant sur les complexités des interactions des ondes électroniques.
Couvre la correction des aberrations optiques majeures en microscopie et la conception d'objectifs couramment utilisés comme les achromates et les apochromates.
Couvre les composants et les technologies utilisés en microscopie électronique, y compris les détecteurs, les lentilles, les aberrations et les porte-échantillons.
Explore la lithographie par faisceau d'électrons, couvrant la luminosité du canon à électrons, les aberrations de la lentille, le diamètre du faisceau et la mise en œuvre de l'outil.
