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Explore les techniques de caractérisation standard, en se concentrant sur la diffraction des rayons X et son importance dans la détermination des structures cristallines.
Couvre la théorie de la diffraction des électrons, la loi de Bragg, le réseau réciproque, la sphère d'Ewald et l'imagerie en champ sombre à faisceau faible.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
Explore l'analyse physique, chimique et morphologique des poudres, en mettant l'accent sur la précision de l'échantillonnage et le contrôle de la qualité.
Explore la déformation et la rupture des matériaux à basse température, en se concentrant sur les relations cristallographiques, les jumeaux mécaniques et les mécanismes de jumelage.
Couvre des exercices sur la diffraction électronique pour identifier les structures cristallines et analyser les modèles de diffraction avec précision.