Introduit des mesures SCOAP pour l'analyse de testabilité dans les systèmes VLSI, couvrant la contrôlabilité, l'observabilité et la prédiction de longueur de vecteur de test.
Déplacez-vous dans les limites fondamentales de la dissipation de puissance dans l'informatique et explorez des concepts émergents utilisant des matériaux 2D.
Discute du transport de charges dans les semi-conducteurs, couvrant la mobilité, les phénomènes de diffusion et l'ingénierie des canaux unidimensionnels dans les gaz électroniques bidimensionnels.
Couvre les défauts liés et non liés dans les systèmes VLSI, les algorithmes de test de mars, les chemins critiques et les tests de défaut de retard de chemin.
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