Couvre les mesures des jauges de contrainte, les facteurs de jauge, les ponts de Wheatstone, les mesures pratiques, le positionnement des jauges et les méthodes d'étalonnage.
Explore l'impact de la contrainte sur la structure de liaison dans les semi-conducteurs et ses implications pratiques pour l'ingénierie des dispositifs.
Explore la configuration de l'équipement, l'étalonnage et la corrélation des images en utilisant Digital Image Corrélation (DIC) pour analyser les champs de déformation.
Explore la mécanique des structures élancées, y compris les équations d'équilibre de Kirchhoff et la théorie de la contrainte finie et de la rotation finie.
Explore les classificateurs voisins les plus proches, le compromis entre les biais, la malédiction de la dimensionnalité et les limites de généralisation dans l'apprentissage automatique supervisé.
