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Couvre la matrice de transfert 2x2 pour les systèmes optiques et la caractérisation à l'aide de paramètres de hauteur et d'angle, ainsi que les systèmes de lentilles et les pupilles d'entrée.
Explore le contraste de phase en microscopie électronique à transmission, en se concentrant sur les complexités des interactions des ondes électroniques.
Couvre les techniques d'imagerie par microscopie électronique en transmission à haute résolution, en se concentrant sur le contraste de phase, les simulations et l'impact des aberrations sur l'interprétation des images.
Couvre les principes, les applications et les composants de la microscopie électronique à transmission (TEM), y compris les modes d'imagerie et les techniques avancées.
Couvre la théorie de la diffraction des électrons, la loi de Bragg, le réseau réciproque, la sphère d'Ewald et l'imagerie en champ sombre à faisceau faible.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.