X-ray reflectivityX-ray reflectivity (sometimes known as X-ray specular reflectivity, X-ray reflectometry, or XRR) is a surface-sensitive analytical technique used in chemistry, physics, and materials science to characterize surfaces, thin films and multilayers. It is a form of reflectometry based on the use of X-rays and is related to the techniques of neutron reflectometry and ellipsometry. The basic principle of X-ray reflectivity is to reflect a beam of X-rays from a flat surface and to then measure the intensity of X-rays reflected in the specular direction (reflected angle equal to incident angle).
Spectrométrie de masse des ions secondairesLa spectrométrie de masse des ions secondaires est un procédé d'analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d'après l'acronyme anglais signifiant secondary ion mass spectrometry, qui consiste à bombarder la surface de l'échantillon à analyser avec un faisceau d'ions. L'échantillon est alors pulvérisé, et une partie de la matière pulvérisée est ionisée. Ces ions secondaires sont alors accélérés vers un spectromètre de masse qui permettra de mesurer la composition élémentaire, isotopique ou moléculaire de la surface de l'échantillon.
Surface reconstructionSurface reconstruction refers to the process by which atoms at the surface of a crystal assume a different structure than that of the bulk. Surface reconstructions are important in that they help in the understanding of surface chemistry for various materials, especially in the case where another material is adsorbed onto the surface. In an ideal infinite crystal, the equilibrium position of each individual atom is determined by the forces exerted by all the other atoms in the crystal, resulting in a periodic structure.
Force de van der Waalsvignette|Tête et pattes avant d'un Gecko (espèce non précisée, queue en forme de feuille) En physique et en chimie, une force de van der Waals, interaction de van der Waals ou liaison de van der Waals est un potentiel interatomique dû à une interaction électrique de faible intensité entre deux atomes ou molécules, ou entre une molécule et un cristal. Elle représente la moyenne statistique de toutes les configurations possibles pour l'interaction, pondérées par leur probabilité à l'équilibre thermodynamique.
Spectrométrie photoélectronique Xvignette|upright=1.4|Machine XPS avec un analyseur de masse (A), des lentilles électromagnétiques (B), une chambre d'ultra-vide (C), une source de rayon X (D) et une pompe à vide (E) La spectrométrie photoélectronique X, ou spectrométrie de photoélectrons induits par rayons X (en anglais, X-Ray photoelectron spectrometry : XPS) est une méthode de spectrométrie photoélectronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X.
