Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Explore l'interaction du rayonnement avec la matière, couvrant les types de rayonnement, la désintégration radioactive, l'ionisation et les processus liés aux collisions.
Explore l'interaction du rayonnement avec la matière, couvrant l'ionisation, l'excitation, la désexcitation, le bremsstrahlung, le rayonnement Cherenkov et le pouvoir d'arrêt.
Explore les sources de rayonnement, y compris les sources d'électrons rapides, les sources de particules lourdes chargées et les sources de neutrons, couvrant des processus comme la désintégration bêta, la conversion interne et les électrons Auger.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explore les sources de rayonnement, y compris les électrons rapides, les particules lourdes chargées et les neutrons, en discutant de leurs applications et de leurs caractéristiques.
