Analyse chimique : spectrométrie de photoélectrons aux rayons X

Cette séance de cours introduit la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une méthode développée par Kai Siegbahn dans les années 50, qui a remporté le prix Nobel de physique en 1981. XPS est une technique d'analyse de surface qui fournit une analyse élémentaire qualitative et quantitative. Il s'agit de l'émission d'électrons à partir de la surface d'un matériau lorsqu'il est excité par les rayons X. La séance de cours couvre l'interaction entre les rayons X et la matière, les composants d'un instrument XPS, le tube à rayons X et le mécanisme XPS. Il explique également le rôle du système de focalisation des électrons, du monochromateur et du détecteur d'électrons. La séance de cours se penche sur l'analyse qualitative, l'interprétation des spectres XPS et les méthodes d'analyse quantitative dans XPS.