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Explique la détermination de l'épaisseur du film à l'aide de techniques XPS et AES, couvrant les principes, l'instrumentation et les comparaisons analytiques.
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Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Fournit un aperçu de la carrière et des contributions diverses de l'instructeur à l'EPFL, en soulignant les expériences clés en matière d'enseignement et d'administration.
Couvre la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, expliquant comment les rayons X révèlent la composition élémentaire et discutant de la génération, de la détection, de l'efficacité et de la quantification des rayons X.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.