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Séance de cours
Analyse de surface et SIMS
Description
Cette séance de cours couvre l'importance de l'analyse de surface, des méthodes d'analyse de surface utilisant des électrons, des ions, des atomes et des photons, ainsi que diverses techniques telles que XPS, AES et ToF-SIMS. Il approfondit également les principes de la spectroscopie photoélectronique, du profilage en profondeur et des avantages du ToF-SIMS pour l'analyse de surface dans différents domaines tels que l'optique, la biocompatibilité et la criminalistique.
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