Progrès dans la spectroscopie de dispersion de l'énergie aux rayons X

Cette séance de cours de l'instructeur couvre les avancées de la spectroscopie à dispersion d'énergie aux rayons X (XEDS) dans le microscope électronique analytique moderne. Il traite des défis à relever pour parvenir à une sensibilité multimodale et analytique au niveau du sous-nanomètre à un niveau quasi-atomique dans la matière dure et douce. La séance de cours souligne l'importance de ne pas rejeter de signal et d'améliorer les limites de détection. Il se penche sur des sujets tels que les limites de détectabilité spectroscopique, les émissions caractéristiques des rayons X et l'influence des géométries des détecteurs sur l'efficacité de la collecte. La séance de cours explore également les aspects pratiques du XEDS, y compris la géométrie du spécimen/détecteur, les calculs d'angle solide et l'impact des détenteurs de spécimens sur la qualité des données.