Explore les principes de la tomographie par rayons X, y compris la génération, l'interaction avec la matière, les méthodes de détection et des exemples pratiques.
Explore les sources de rayonnement, y compris les sources d'électrons rapides, les sources de particules lourdes chargées et les sources de neutrons, couvrant des processus comme la désintégration bêta, la conversion interne et les électrons Auger.
Couvre la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, expliquant comment les rayons X révèlent la composition élémentaire et discutant de la génération, de la détection, de l'efficacité et de la quantification des rayons X.
Explore les sources de rayonnement, y compris les électrons rapides, les particules lourdes chargées et les neutrons, en discutant de leurs applications et de leurs caractéristiques.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
Explore les bases de l'imagerie par rayons X, y compris la découverte des rayons X, l'interaction des rayonnements électromagnétiques et les effets des rayonnements ionisants.
Couvre les principes fondamentaux et les applications de la microanalyse par rayons X à dispersion d'énergie, en expliquant son fonctionnement et ses défis.
Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.
