Séance de cours
Cette séance de cours présente la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique qui utilise les rayons X émis par un matériau lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X. Il couvre les sources de rayons X, la production de rayons X et l'interaction entre les rayons X et la matière. La séance de cours explique les principes de XRFS, y compris la mise au point des rayons X, la sélection des rayons X et les conditions d'excitation. Il se penche également sur l'analyse qualitative et quantitative à l'aide de XRFS, en discutant des processus d'excitation-relaxation, du spectre d'émission des rayons X et de la détection des rayons X. En outre, il explore les erreurs, les effets matriciels et les sources d'incertitude dans l'analyse quantitative par étalonnage interne et des méthodes standardless.