Spectrométrie de fluorescence X-Ray XRFS

Cette séance de cours présente la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique qui utilise les rayons X émis par un matériau lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X. Il couvre les sources de rayons X, la production de rayons X et l'interaction entre les rayons X et la matière. La séance de cours explique les principes de XRFS, y compris la mise au point des rayons X, la sélection des rayons X et les conditions d'excitation. Il se penche également sur l'analyse qualitative et quantitative à l'aide de XRFS, en discutant des processus d'excitation-relaxation, du spectre d'émission des rayons X et de la détection des rayons X. En outre, il explore les erreurs, les effets matriciels et les sources d'incertitude dans l'analyse quantitative par étalonnage interne et des méthodes standardless.

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Séances de cours associées (15)

Concepts associés (62)

CH-410: Physical and chemical analyses of materials

The course relates on the use of electromagnetic (X-Ray) and corpuscular (electrons) radiations for physical and chemical analysis of solid materials.

Spectrométrie de fluorescence des rayons X

thumb|Analyseur portatif (Olympus Delta Professional XRF donnant la quantité de contaminants métalliques ou métalloïdes dans le sol. contaminants préoccupants recherchés sont ici le plomb, le mercure, le cadmium et l'arsenic. La spectrométrie de fluorescence des rayons X (SFX ou FX, ou en anglais XRF pour X-ray fluorescence) est une technique d'analyse chimique utilisant une propriété physique de la matière, la fluorescence de rayons X.

Rayon X

vignette|upright|Une des premières radiographies, prise par Wilhelm Röntgen. alt=Rayon X des poumons humains|vignette|189x189px|Rayon X des poumons humains. Les rayons X sont une forme de rayonnement électromagnétique à haute fréquence constitué de photons dont l'énergie varie d'une centaine d'eV (électron-volt), à plusieurs MeV. Ce rayonnement a été découvert en 1895 par le physicien allemand Wilhelm Röntgen, qui a reçu pour cela le premier prix Nobel de physique ; il lui donna le nom habituel de l'inconnue en mathématiques, X.

Tube à rayons X

Les tubes à rayons X sont des dispositifs permettant de produire des rayons X, en général pour trois types d'applications : radiographie et tomographie (, science des matériaux) ; Cristallographie aux rayons X (diffraction de rayons X, voir aussi l'article Diffractomètre) ; analyse chimique élémentaire par spectrométrie de fluorescence des rayons X. Il existe plusieurs types de tubes. Quel que soit le type de tube, la génération des rayons X se fait selon le même principe.

Spectroscopie des rayons X

La spectroscopie des rayons X rassemble plusieurs techniques de caractérisation spectroscopique de matériaux par excitation par rayons X. Trois familles de techniques sont le plus souvent utilisées. Selon les phénomènes mis en jeu, on distingue trois classes : L'analyse se fait par l'une des deux méthodes suivantes : analyse dispersive en énergie (Energy-dispersive x-ray analysis (EDXA) en anglais) ; analyse dispersive en longueur d'onde (Wavelength dispersive x-ray analysis (WDXA) en anglais).

Astronomie en rayons X

vignette|redresse=2|Les rayons X couvrent le domaine allant d'environ , auquel l'atmosphère est opaque. L’astronomie en (souvent abrégée en ) est la branche de l'astronomie qui consiste à étudier l'émission des objets célestes en . Puisque le est absorbé par l'atmosphère de la Terre, les instruments doivent être envoyés à haute altitude à l'aide de ballons et désormais de fusées. L' fait donc aujourd'hui partie de la recherche spatiale, les détecteurs étant placés à bord de satellites.

Interactions faisceau-matière CH-410: Physical and chemical analyses of materials

Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.

Tunning de fréquence basé sur le stress

Explore le réglage de fréquence basé sur le stress dans les dispositifs micro/nanomécaniques, couvrant le rayonnement noir du corps, la non-linéarité optique, NETD, et la gamme dynamique.

Analyse chimique : spectrométrie de photoélectrons aux rayons X CH-410: Physical and chemical analyses of materials

Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.

Rayons X : de la découverte aux applications CH-417: Optical methods in chemistry

Explore la perspective historique, les propriétés et les applications des rayons X, y compris la diffraction, la résolution atomique et les couleurs spectrales des éléments.

Améliorer et façonner le rayonnement des particules à haute énergie avec la nanophotonique

S'oriente vers l'amélioration et l'adaptation du rayonnement des particules à haute énergie à l'aide de structures nanophotoniques.