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Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
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Couvre les principes de la conception synchrone RTL, des circuits numériques personnalisés, de la visualisation des diagrammes Y, des classes de signaux et de la gestion de la hiérarchie.
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