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Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
Explore le retard de l'onduleur, le dimensionnement, les capacités parasites et l'impact de l'appareil sur l'optimisation du retard dans les circuits numériques.
Couvre les principes de la conception synchrone RTL, des circuits numériques personnalisés, de la visualisation des diagrammes Y, des classes de signaux et de la gestion de la hiérarchie.
Explore l'électronique nanofilaire reconfigurable, répondant aux défis de la technologie CMOS et proposant des solutions innovantes pour améliorer les performances des appareils.
Introduit les additionneurs de préfixes parallèles, une approche systématique pour concevoir des architectures d'additionneurs optimisées avec différents types tels que RCA, Sklansky, Brent Kung, Kogge Stone et CIA.
