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Explore la synthèse du catalyseur par dépôt et précipitation, couvrant les principes, les applications, la (co-)précipitation, les zéolites, les supports de carbone et les pérovskites.
Couvre la métrologie à l'échelle nanométrique, la microscopie optique, la microscopie à force atomique, la microscopie électronique et la redéfinition des unités.
Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Présente les bases de la microscopie électronique de transmission, couvrant l'interface utilisateur TEM, les paramètres de la caméra, la vue d'ensemble du vide et l'analyse d'images.
Examine les interactions ion-cible dans les processus de pulvérisation de PVD, couvrant le dépôt composé, les dommages de surface et les facteurs influençant les taux d'éjection des cibles.
