Microscopie de sonde de balayage : Fondamentaux et applications
Cette séance de cours couvre les principes fondamentaux et les applications de la microscopie à sonde à balayage (SPM), en se concentrant sur des techniques telles que la microscopie à force atomique (AFM), la microscopie à force magnétique (MFM), la microscopie à sonde Kelvin (KPFM) et la microscopie optique à champ proche à balayage (SNOM). L'instructeur explique l'optimisation de la bande passante d'imagerie en porte-à-faux dans AFM, les principes derrière MFM pour l'imagerie des domaines magnétiques, l'utilisation de KPFM pour observer le potentiel de surface et la fonction de travail, et les percées dans SNOM pour dépasser la limite de diffraction. En outre, la séance de cours se penche sur l'intégration de capteurs et d'actionneurs pour les encorbellements, la fabrication et le fonctionnement des encorbellements piézorésistifs et piézoélectriques, et les progrès dans les systèmes SPM parallèles.