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Explore les bases et les applications des amplificateurs opérationnels, couvrant les modèles idéaux, les retours, les configurations et les exemples de circuits.
Explore la simulation de pannes dans les tests VLSI, couvrant la couverture des pannes, les modèles de pannes, les algorithmes, les types de simulateurs, la simulation déductive et les règles de propagation des pannes.
Explore l'évolution des systèmes numériques des transistors aux circuits intégrés et leur impact sur les applications grand public et les technologies IoT.
Explore les techniques d'auto-test intégré (BIST) dans les systèmes VLSI, couvrant les avantages, les inconvénients, les détails de mise en œuvre et l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour la génération de modèles de test.
Couvre les canaux qui s'estompent dans la communication sans fil, en discutant des modèles, des performances, de la diversité et des effets d'atténuation.
