Auto-test intégré (BIST): Techniques et implémentations

Cette séance de cours couvre le concept d'auto-test intégré (BIST) dans les systèmes VLSI, en se concentrant sur les techniques et les configurations de circuits qui permettent à un circuit de se tester. Il traite des avantages de BIST, tels que l'amélioration de la contrôlabilité et de l'observabilité, la réduction de la dépendance à l'équipement de test externe et les tests simultanés pendant le fonctionnement normal du système. Les inconvénients et les coûts de BIST, y compris les frais généraux, les problèmes de calendrier et les défis de développement, sont également explorés. La séance de cours se penche sur la mise en œuvre détaillée de BIST, y compris l'analyse des résultats de test, la génération de modèles de test et le rôle de divers composants tels que Test Pattern Generator (TPG) et Response Analyzer (RA). En outre, il explique l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour la génération de modèles de test et l'importance des polynômes primitifs dans la génération de séquences pseudo-aléatoires.