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Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
Couvre l'amélioration de la résolution en microscopie optique, en imagerie confocale et en marquage fluorescent, explorant l'histoire et les techniques de la microscopie à sonde à balayage.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris les interactions électron-échantillon, les détecteurs, la préparation des échantillons, la formation d'images, la résolution et les contrastes dans les images SEM.
Couvre les approches fondamentales de caractérisation des matériaux solides, en se concentrant sur l'analyse élémentaire, l'analyse thermique, la microscopie et les spectroscopies à base de neutrons.
Explore l'ingénierie de la fonction d'onde, le contrôle de la cohérence, les phénomènes de speckle, la microscopie, la dynamique et les résonances plasmatiques.
Couvre les principes et les applications de la microscopie électronique de transmission, y compris l'imagerie, la diffraction, les mécanismes de contraste et les techniques in situ.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Explore la ptychographie pour l'imagerie des atomes et des champs à l'échelle du picomètre, couvrant les limites de résolution, la section de profondeur, la microscopie de Lorentz et les progrès des détecteurs.
