Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
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Couvre la source d'ions ALIS He et son application en microscopie à haute résolution, fournissant des détails de surface et un contraste de matériau remarquables.
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Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM) pour la microscopie analytique, couvrant la diffraction TEM, les détecteurs et l'analyse EDS.
Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Explore les principes fondamentaux et les applications de la microscopie à sonde à balayage, y compris la configuration STM, la reconstruction de surface, le tunnel quantique et la microscopie à force de balayage.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris la configuration, les signaux et les défis tels que les dommages causés par le faisceau et la charge.
