Microscopie par sonde de balayage : bases et applications

Cette séance de cours présente la microscopie par sonde à balayage (SPM), qui couvre la microscopie conventionnelle, l'interaction à proximité du champ, différents types d'interactions entre la sonde et la surface, et la fabrication de bouts tranchants pour la microscopie de la force atomique (AFM). Il explique les principes qui sous-tendent les techniques SPM, comme la microscopie de balayage des tunnels (STM) et l'AFM, soulignant l'importance de la netteté et de la résolution des bouts. La séance de cours traite également de la microfabrication des nano-tips, en s'inspirant des processus d'érosion naturelle. Dans l'ensemble, il donne un aperçu complet des MPS, de leurs applications et de l'importance des interactions entre la sonde et la surface dans l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.