Explore les interactions faisceau-matière, les effets thermiques, les effets chimiques, les déplacements atomiques et les mécanismes d'émission de matière en microscopie électronique.
Introduit la diffusion inélastique en microscopie électronique à transmission, en se concentrant sur les principes et les applications de la spectroscopie de perte d'énergie électronique.
Explore les principes de la microscopie électronique à transmission par balayage (STEM), les détecteurs, les mécanismes de contraste et les applications en imagerie haute résolution.
Explore NMF guidé par la physique pour l'analyse de données STEM/EDXS, couvrant les défis, l'optimisation, les contraintes et les avantages de la modélisation.
Explore les principes EDS et ESEM, la détection des rayons X, l'efficacité de l'ionisation, la loi de Moseley et les environnements d'échantillons ESEM.
Couvre les bases de la microscopie électronique à balayage, y compris l'interaction de la matière électronique, les techniques d'imagerie et les sujets avancés connexes.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Introduit la microscopie électronique, couvrant l'organisation pratique, la préparation d'échantillon, l'interaction rayonnement-matière, et les mécanismes de détecteur.
