Microscopie de sonde de balayage

Cette séance de cours couvre les principes et les applications de la microscopie à sonde à balayage (SPM), en se concentrant sur des techniques telles que la microscopie électrique de champ (EFM), la microscopie Kelvin Force (KF-AFM), l'AFM conductrice (CAFM), la microscopie à résistance à la propagation (SSRM) et la microscopie à force magnétique (MFM). Il aborde également des sujets tels que la microscopie de capacité (SCM), l'AFM sensible aux produits chimiques et la microscopie optique à balayage en champ proche (SNOM). La séance de cours explore l'utilisation du SPM dans la mesure de la tension, du courant, de la résistivité et des forces magnétiques, ainsi que ses applications dans la lithographie, la détection de température et les interactions chimiques.