Explore les interactions faisceau-matière, en se concentrant sur les phénomènes d'émission de l'ionisation électronique du noyau par les rayons X et les électrons, et la concurrence entre Auger et les émissions de rayons X.
Couvre la spectrométrie de fluorescence X (XRFS), une technique d'analyse chimique utilisant les rayons X émis lorsqu'il est excité par un faisceau primaire de rayons X.
Explore les principes et les applications de la radiographie gamma et neutronique dans les milieux industriels, en soulignant les avantages de l'utilisation des neutrons et en discutant des techniques spéciales et des applications industrielles.
Couvre la microanalyse de rayons X à dispersion d'énergie, explorant la génération, la détection, la quantification et les défis de rayons X dans l'analyse élémentaire précise.
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Explore les appareils d'imagerie à rayons X et gamma, les détecteurs de semi-conducteurs et les applications de transport de charge dans les détecteurs.
