Couvre les propriétés du rayonnement synchrotron, y compris son émission par des particules relativistes et son effet sur le faisceau par amortissement du rayonnement.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
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