Test des systèmes VLSI

Cette séance de cours couvre les rôles des tests dans les systèmes VLSI, y compris la détection, le diagnostic, l'analyse du mode de défaillance, et l'impact des tests réels n'étant pas parfait. Il explique également le processus de test dans les étapes de fabrication IC, les types de tests de fabrication et l'utilisation de l'équipement de test automatique (ATE). La séance de cours explore différentes méthodologies de test telles que la caractérisation, le Go / No-Go, le burn-in et l'inspection entrante. Il traite de l'analyse des coûts des tests de production, des facteurs affectant le rendement, du niveau de défaut, de la couverture des défauts et de l'importance croissante des tests dans les technologies modernes.