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Couvre les fondamentaux du calcul quantique, les architectures ADC, les avantages de suréchantillonnage, la formation du bruit, les phénomènes de glissade et le bruit des circuits intégrés numériques.
Couvre les défauts liés et non liés dans les systèmes VLSI, les algorithmes de test de mars, les chemins critiques et les tests de défaut de retard de chemin.
Explore l'évolution des systèmes numériques des transistors aux circuits intégrés et leur impact sur les applications grand public et les technologies IoT.
Explore les techniques d'auto-test intégré (BIST) dans les systèmes VLSI, couvrant les avantages, les inconvénients, les détails de mise en œuvre et l'utilisation des registres à décalage à rétroaction linéaire (LFSR) pour la génération de modèles de test.
Couvre les concepts fondamentaux des systèmes logiques, y compris les circuits séquentiels et combinatoires, les diagrammes détat et les machines détat fini.
