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Cette séance de cours couvre les principes et les techniques de la microscopie à force atomique (AFM) pour caractériser la morphologie des polymères. Il explique les différents modes de fonctionnement de l'AFM, tels que les modes de contact, sans contact et de contact intermittent, et leurs applications dans l'étude des interactions spécimen-pointe. La séance de cours traite également des composants d'une configuration AFM, y compris le cantilever, la pointe et le système de boucle de rétroaction. Une attention particulière est accordée à la conception de la pointe AFM et à son importance dans la réalisation de l'imagerie haute résolution. Diverses interactions spécimen-pointe, telles que les forces répulsives à courte portée et les forces capillaires, sont explorées. La séance de cours se termine par des exemples d'imagerie AFM dans différents modes et les défis associés à l'imagerie en mode contact.