Essai des systèmes VLSI: ATPG combinatoire et séquentiel

Cette séance de cours couvre la nécessité et les coûts du test des systèmes VLSI, de la modélisation des défauts, de la simulation et de la mesure de la qualité des tests. Il se penche sur la génération de modèles vectoriels de test, les tests structurels et fonctionnels, la conception de balayage, les abstractions de l'espace de recherche et l'algèbre des cinq valeurs. Le fardeau informatique de tester fonctionnellement et structurellement un additionneur 64 bits est discuté, ainsi que l'algorithme ATPG (Automatic Test-Pattern Generator), les abstractions de l'espace de recherche et l'algèbre à 5 valeurs de Roth. Les méthodes de sensibilisation au chemin, l'algorithme D, les implications en arrière et en avant, les cônes de faille et les frontiers D sont expliqués. La séance de cours se termine par des exemples de sensibilisation des chemins de circuit et la mise en œuvre de l'expansion de la période pour la détection des défauts dans les circuits séquentiels.