Test des systèmes VLSI

Cette séance de cours couvre les concepts de défauts, d'erreurs et de défauts dans les systèmes VLSI, y compris les modèles de défauts tels que les défauts uniques bloqués et les défauts de pontage. Il explique la différence entre les tests fonctionnels et structurels, la question de la mise à l'échelle et de la complexité, et l'importance de l'effondrement des fautes et de la dominance des fautes. La séance de cours traite également des défis de multiples défauts bloqués, des défauts au niveau du transistor et de l'identification de la redondance et des défauts non testables.