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Explore l'impact des variations de PVT, les incertitudes dans la conception des circuits intégrés, les paradigmes de conception dans le pire des cas et l'importance des simulations Monte-Carlo.
Explore les défis et les solutions pour gérer la dose d'électrons en microscopie, en soulignant l'importance d'un suivi et d'une analyse précis des doses.
Explore les circuits CMOS pour la détection de l'ADN, en se concentrant sur les méthodes de mesure de capacité basées sur la charge et la détection ampérométrique.
Explore les technologies de capteurs dans MEMS, en se concentrant sur les capteurs de pression, les accéléromètres et les gyroscopes, et souligne l'importance de la fusion des capteurs.
Explore les condensateurs dans les circuits, le stockage de l'énergie et les diélectriques, mettant l'accent sur la charge, la tension et les relations énergétiques.
Explore la capacité, les diélectriques et le stockage d'énergie dans les condensateurs, y compris les applications de capteurs de pression et l'impact des matériaux diélectriques.
Explore les techniques de test pour les systèmes VLSI numériques, couvrant la modélisation des défauts, la génération de modèles de test et la conception pour la testabilité.
