STEM: Microscopie électronique à transmission par balayage
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Explore les principes et les applications de la technologie Focused Ion Beam, y compris les interactions ion-solide, le broyage ionique et la nanofabrication.
Explore les méthodes d'analyse de surface à l'aide d'électrons, d'ions, d'atomes et de photons, en soulignant l'importance du ToF-SIMS pour une analyse de surface approfondie dans divers domaines.
Explore la microscopie de la Force atomique, qui couvre les principes, les applications, la résolution, les mécanismes de rétroaction et les techniques d'imagerie.
Explore la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage, couvrant les interactions, l'étude de morphologie, l'analyse EDX et la distribution de phase.
Explore les principes, les applications et l'importance de la microscopie de la Force atomique dans la recherche scientifique, y compris les études de structure biologique.
Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.
