Spectroscopie par photoélectrons à rayons X: Principes fondamentaux et applications

Cette séance de cours couvre les principes fondamentaux et les applications de la spectroscopie photoélectronique à rayons X (XPS), en se concentrant sur la spectroscopie électronique, les diagrammes d'énergie, la photoémission en phase condensée, les lignes de recombinaison Auger, les effets de fond, le couplage spin-orbite, le fractionnement multiplet, les lignes de perte d'énergie, les satellites de brassage, la charge d'échantillon, le profilage en profondeur, la contamination de surface et les techniques de pulvérisation. Il aborde également les défis de la manipulation des échantillons isolants, les limites de nettoyage de surface, et l'utilisation de Ar + et Gas Cluster Ion Beam (GCIB) pour l'analyse de surface. La séance de cours se termine par un résumé sur l'identification des raies du spectre XPS, les techniques de pulvérisation et l'importance des changements chimiques dans l'analyse XPS.