Microscopie électronique à balayage : notions de base
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Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.
Couvre la spectrométrie de photoélectrons à rayons X (XPS), une technique d'analyse de surface développée par Kai Siegbahn, expliquant ses composants, son mécanisme et ses méthodes d'analyse.
Explore les principes de la microscopie cryo-électronique, les flux de travail, la révolution de résolution, les applications en sciences de la vie et la microfluidique.
Explore la reconstruction volumique 3D à l'aide de la microscopie FIB / SEM, de la reconnaissance des particules, de la détection des bords, de la séparation des bassins versants et de l'analyse quantitative de la microstructure.
Couvre les principes de la microscopie électronique à balayage à haute pression de chambre d'échantillon et les microstructures de l'hydrure de magnésium catalysé avec des nanoparticules de Ni ou Nb2O5.