Séance de cours
Microscopie électronique à balayage : notions de base
Séances de cours associées (83)
Microscopie électronique des polymères
Explore les techniques de microscopie électronique pour la caractérisation morphologique des polymères, couvrant les sources de contraste, les dommages causés par le faisceau et les stratégies pour éviter les dommages.
Microscopie électronique: EDS
Explore la spectroscopie à rayons X dispersive (EDS) en microscopie électronique, couvrant la génération de rayons X, la détection, la quantification et la cartographie des éléments dans les échantillons.
Test de microscopie électronique intermédiaire: détecteurs et sondes
Discute des détecteurs en microscopie électronique et du contrôle de la taille des sondes.
Vérification de la qualité de la couche de sondes
Couvre l'évaluation de la qualité des couches de sondes à l'aide du miroir résonnant, de la résonance de Plasmon de surface et de la microscopie électronique à balayage.
Explorer les matériaux 2D en haute résolution
Explore les techniques avancées de microscopie électronique pour les matériaux 2D, couvrant l'imagerie à haute résolution, réduisant les dommages, la diffraction et la ptychographie.
Analyse chimique : Micro-analyse X-Ray XRMA
Couvre la micro-analyse aux rayons X (XRMA) comparant les techniques d'analyse de la matière avec des faisceaux d'électrons, discutant du volume d'interaction, de l'émission, de la fluorescence et des effets matriciels.
Microscopie par sonde de balayage : bases et applications
Couvre les bases de la microscopie par sonde de balayage, la fabrication des bouts et la microfabrication nano-tip pour l'imagerie et la manipulation à l'échelle nanométrique.
Pratiques de métrologie: Introduction
Présente aux étudiants des expériences pratiques en métrologie, couvrant des sujets comme les expériences à photo unique, l'AFM, le SEM et l'instrumentation clé.
Caractérisation de la microstructure par SEMMOOC: Cement Chemistry and Sustainable Cementitious Materials
Explore la caractérisation de la microstructure par la microscopie électronique à balayage, couvrant les interactions, l'étude de morphologie, l'analyse EDX et la distribution de phase.
Pratiques de métrologie: Introduction
Présente des expériences de métrologie pratiques, couvrant des sujets tels que la métrologie quantique, les expériences à photons uniques et l'AFM pour les mesures nanométriques.