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Jean-Luc Rouvière

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Publications associées (3)

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Stress-modulated composition in the vicinity of dislocations in nearly lattice matched AlxIn1-x N/GaN heterostructures: A possible explanation of defect insensitivity

Nicolas Grandjean, Jean-François Carlin, Marco Cantoni, Eric Feltin, Pierre Stadelmann, Anas Mouti, Jean-Luc Rouvière

Evidence of composition fluctuations around threading dislocations at scales ranging from atomic distances to tens of nanometers is provided by z-contrast imaging, strain measurement, and energy dispersive x-ray spectroscopy in AlxIn1-x N/GaN heterostructu ...

2011

High-sensitivity mapping of magnetic induction fields with nanometer-scale resolution: comparison of off-axis electron holography and pixelated differential phase contrast

Jean-Luc Rouvière, Victor Carle Adrien Boureau

We compare two transmission electron microscopy (TEM) based techniques that can provide highly spatially resolved quantitative measurements of magnetic induction fields at high sensitivity. To this end, the magnetic induction of a ferromagnetic NiFe nanowi ...

IOP PUBLISHING LTD2021

Improved measurement of electric fields by nanobeam precession electron diffraction

Jean-Luc Rouvière, Victor Carle Adrien Boureau

The electric field in a silicon p-n junction has been measured using pixelated scanning transmission electron microscopy. By using a convergence angle of 3.2mrad, a spatial resolution better than 1nm can be achieved leading to a rigid shift of the transmit ...

2020