Publication
High spatial resolution picosecond cathodoluminescence of InGaN quantum wells
Résumé
The authors have studied InxGa1-xN/GaN (x approximate to 15%) quantum wells (QWs) using atomic force microscopy (AFM) and picosecond time resolved cathodoluminescence (pTRCL) measurements. They observed a contrast inversion between monochromatic CL maps corresponding to the high energy side (3.13 eV) and the low energy side (3.07 eV) of the QW luminescence peak. In perfect correlation with CL images, AFM images clearly show regions where the QW thickness almost decreases to zero. Pronounced spectral diffusion from high energy thinner regions to low energy thicker regions is observed in pTRCL, providing a possible explanation for the hindering of nonradiative recombination at dislocations. (c) 2006 American Institute of Physics.
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Concepts associés (31)
Cathodoluminescence
vignette|Un diamant vu par cathodoluminescence. La cathodoluminescence est le phénomène optique et électrique que l'on observe lorsqu'un faisceau d'électrons produit par un canon à électrons (par exemple un tube à rayons cathodiques) bombarde un échantillon en phosphore (par exemple), conduisant à l'émission de lumière (dans le domaine UV, visible ou infrarouge). L'application la plus répandue est l'écran de télévision (lorsque celui-ci est un tube à rayons cathodiques).
Puits quantique
Un puits quantique est une zone de l'espace dans laquelle le potentiel ressenti par une particule quantique atteint un minimum. Il s'agit d'un puits de potentiel dont les petites dimensions entraînent une différence entre les prédictions de la mécanique classique et celles de la mécanique quantique. L'équation de Schrödinger prévoit en effet que l'énergie de la particule évoluant dans un tel puits est quantifiée. L'étude de puits quantiques de forme variée (puits carré, puits harmonique, couplage entre deux puits voisins.
Microscopie à sonde locale
La microscopie à sonde locale (MSL) ou microscopie en champ proche (MCP) ou scanning probe microscopy (SPM) en anglais est une technique de microscopie permettant de cartographier le relief (nano-topographie) ou une autre grandeur physique en balayant la surface à imager à l'aide d'une pointe très fine (la pointe est idéalement un cône se terminant par un seul atome). Le pouvoir de résolution obtenu par cette technique permet d'observer jusqu'à des atomes, ce qui est physiquement impossible avec un microscope optique, quel que soit son grossissement.
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