CMOS 3D-Extended Metal Gate ISFETs with Near Nernstian Ion Sensitivity

Francesco Bellando, Neil Ebejer, Erick Antonio Garcia Cordero, Hoël Maxime Guérin, Mihai Adrian Ionescu, Johan Frédéric Longo, Maneesha Rupakula, Fabien Patrick Wildhaber, Junrui Zhang
IEEE, 2018
Article de conférence

Official source

https://infoscience.epfl.ch/record/261495?ln=fr

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