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Replica Bit-Line Technique for Internal Refresh in Logic-Compatible Gain-Cell Embedded DRAM
Concepts associés (33)
Conception de circuits intégrés
La conception (ou le design) de circuits intégrés (ou puces électroniques) consiste à réaliser les nombreuses étapes de développement (flot de conception ou design flow) nécessaires pour concevoir correctement et sans erreurs une puce électronique. Le point d'entrée est une spécification fonctionnelle qui décrit le fonctionnement voulu de la puce, ainsi que des contraintes non fonctionnelles (surface, coût, consommation...).
Amplificateur de détection
En informatique, un amplificateur de détection (en anglais, sense amplifier) est un des éléments de la mémoire vive de l'ordinateur. Le terme amplificateur de détection remonte à l'époque de la mémoire à tores magnétiques. L'amplificateur de détection fait partie du circuit de lecture qui est utilisé lorsque des données sont lues à partir de la mémoire. Sa tâche est de détecter le signal de faible puissance provenant d'une bit-line (ce signal représente un bit de données (1 ou 0) stocké dans une cellule de mémoire) et d'amplifier cette petite variation de tension à un niveau permettant l'utilisation de la donnée par les circuits hors de la mémoire.
Boundary scan
Boundary scan is a method for testing interconnects (wire lines) on printed circuit boards or sub-blocks inside an integrated circuit. Boundary scan is also widely used as a debugging method to watch integrated circuit pin states, measure voltage, or analyze sub-blocks inside an integrated circuit. The Joint Test Action Group (JTAG) developed a specification for boundary scan testing that was standardized in 1990 as the IEEE Std. 1149.1-1990.