Publication

Current-driven switching of exchange biased spin-valve giant magnetoresistive nanopillars using a conducting nanoprobe

Jürgen Brugger, Johannes Steen
2004
Article

Résumé

An array of exchange biased spin-valve giant-magnetoresistance nanopillars was fabricated and the current I dependence of the resistance R was investigated using an electrically conducting atomic-force microscope (AFM) probe contact at room temperature. We observed current induced switching in a MnIr/CoFe/Cu/CoFe/NiFe nanopillar using the AFM probe contact. Current-driven switching using nanoprobe contact is a powerful method for developing nonvolatile and rewritable magnetic memory with high density.

Source officielle

https://infoscience.epfl.ch/record/64514?ln=fr

À propos de ce résultat

Cette page est générée automatiquement et peut contenir des informations qui ne sont pas correctes, complètes, à jour ou pertinentes par rapport à votre recherche. Il en va de même pour toutes les autres pages de ce site. Veillez à vérifier les informations auprès des sources officielles de l'EPFL.

Graph Chatbot

Chattez avec Graph Search

Posez n’importe quelle question sur les cours, conférences, exercices, recherches, actualités, etc. de l’EPFL ou essayez les exemples de questions ci-dessous.

AVERTISSEMENT : Le chatbot Graph n'est pas programmé pour fournir des réponses explicites ou catégoriques à vos questions. Il transforme plutôt vos questions en demandes API qui sont distribuées aux différents services informatiques officiellement administrés par l'EPFL. Son but est uniquement de collecter et de recommander des références pertinentes à des contenus que vous pouvez explorer pour vous aider à répondre à vos questions.

Connectez-vous pour utiliser Chat avec Graph Search

Current-driven switching of exchange biased spin-valve giant magnetoresistive nanopillars using a conducting nanoprobe

Graph Chatbot

Chattez avec Graph Search

Atomic-scale Characterization of Strain and Gate effects on Two-dimensional Materials by Scanning Tunneling Microscopy

Magnetic force microscopy contrast formation and field sensitivity

RRAM-VAC: A Variability-Aware Controller for RRAM-based Memory Architectures

Magnetic force microscopy contrast formation and field sensitivity

Atomic-scale Characterization of Strain and Gate effects on Two-dimensional Materials by Scanning Tunneling Microscopy

RRAM-VAC: A Variability-Aware Controller for RRAM-based Memory Architectures