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Focused electron beam induced deposition of a periodic transparent nano-optic pattern

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Indice de réfraction

vignette|Image des fronts d'onde émis par une source ponctuelle mettant en évidence le phénomène de réfraction. La zone inférieure située sous la ligne grise a un plus grand indice de réfraction et donc une vitesse de propagation proportionnellement inférieure à celle de la zone supérieure (pour une raison de clarté, la réflexion partielle n'est pas montrée).

Matière première

thumb|right|Le soufre est une matière première de nature minérale. Ici, des monticules de soufre attendent dans un port de commerce, prêts à être chargés à bord de navires vraquiers. thumb|right|Le latex est une matière première de nature végétale. Ici, du latex est collecté à même sa source naturelle, l'arbre à caoutchouc. thumb|right|La laine est une matière première de nature animale. Ici, de la laine de mouton vient d'être tondue et attend d'être traitée et tissée dans une manufacture de tapis.

Dispersive prism

In optics, a dispersive prism is an optical prism that is used to disperse light, that is, to separate light into its spectral components (the colors of the rainbow). Different wavelengths (colors) of light will be deflected by the prism at different angles. This is a result of the prism material's index of refraction varying with wavelength (dispersion). Generally, longer wavelengths (red) undergo a smaller deviation than shorter wavelengths (blue).

Photonic metamaterial

A photonic metamaterial (PM), also known as an optical metamaterial, is a type of electromagnetic metamaterial, that interacts with light, covering terahertz (THz), infrared (IR) or visible wavelengths. The materials employ a periodic, cellular structure. The subwavelength periodicity distinguishes photonic metamaterials from photonic band gap or photonic crystal structures. The cells are on a scale that is magnitudes larger than the atom, yet much smaller than the radiated wavelength, are on the order of nanometers.

Silicon photonics

Silicon photonics is the study and application of photonic systems which use silicon as an optical medium. The silicon is usually patterned with sub-micrometre precision, into microphotonic components. These operate in the infrared, most commonly at the 1.55 micrometre wavelength used by most fiber optic telecommunication systems. The silicon typically lies on top of a layer of silica in what (by analogy with a similar construction in microelectronics) is known as silicon on insulator (SOI).

Incidence geometry

In mathematics, incidence geometry is the study of incidence structures. A geometric structure such as the Euclidean plane is a complicated object that involves concepts such as length, angles, continuity, betweenness, and incidence. An incidence structure is what is obtained when all other concepts are removed and all that remains is the data about which points lie on which lines. Even with this severe limitation, theorems can be proved and interesting facts emerge concerning this structure.

Prisme (optique)

vignette|upright=1.5|Trois prismes à base triangulaire : un prisme à angle droit, un prisme à 60° et un prisme à 30°.|alt=Photographie de trois prismes en verre posés sur une table en bois. Un prisme est un bloc de verre taillé, composé classiquement de trois faces sur une base triangulaire, mais qui peut adopter des formes plus complexes et éloignées du prisme à base triangulaire usuel. C'est un instrument optique utilisé pour réfracter la lumière, la réfléchir ou la disperser.

Microscopie électronique à balayage

thumb|right|Premier microscope électronique à balayage par M von Ardenne thumb|right|Microscope électronique à balayage JEOL JSM-6340F thumb|upright=1.5|Principe de fonctionnement du Microscope Électronique à Balayage La microscopie électronique à balayage (MEB) ou scanning electron microscope (SEM) en anglais est une technique de microscopie électronique capable de produire des images en haute résolution de la surface d’un échantillon en utilisant le principe des interactions électrons-matière.

Negative-index metamaterial

Negative-index metamaterial or negative-index material (NIM) is a metamaterial whose refractive index for an electromagnetic wave has a negative value over some frequency range. NIMs are constructed of periodic basic parts called unit cells, which are usually significantly smaller than the wavelength of the externally applied electromagnetic radiation. The unit cells of the first experimentally investigated NIMs were constructed from circuit board material, or in other words, wires and dielectrics.

Tunable metamaterial

A tunable metamaterial is a metamaterial with a variable response to an incident electromagnetic wave. This includes remotely controlling how an incident electromagnetic wave (EM wave) interacts with a metamaterial. This translates into the capability to determine whether the EM wave is transmitted, reflected, or absorbed. In general, the lattice structure of the tunable metamaterial is adjustable in real time, making it possible to reconfigure a metamaterial device during operation.