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Explore les bases et les applications de la diffraction de rétrodiffusion électronique (EBSD) dans le SEM, en couvrant des techniques telles que l'acquisition et l'analyse de motifs.
Explore l'histoire de la microscopie électronique à transmission et les progrès des techniques de correction des aberrations, en discutant de divers contrastes dans l'imagerie TEM.
Discute des jonctions métal-semi-conducteur, de leur contexte historique, de l'équilibre thermodynamique et des principes régissant leur fonctionnement dans la technologie des semi-conducteurs.
Explore la microscopie électronique à balayage environnemental (ESEM) pour l'imagerie de divers échantillons sans préparation, couvrant le balayage de faisceau d'électrons, la manipulation de pression, la diffusion d'électrons, l'analyse de rayons X et les transitions de phase.
Explore la microscopie de la Force atomique, qui couvre les principes, les applications, la résolution, les mécanismes de rétroaction et les techniques d'imagerie.
Couvre les principes et les applications de la microscopie de la force atomique (AFM) pour la métrologie à l'échelle nanométrique, y compris les modes d'imagerie, les interactions tip-sample et le traitement de l'image.
Explore le contraste de phase en microscopie électronique à transmission, en se concentrant sur les complexités des interactions des ondes électroniques.
Introduit la diffusion inélastique en microscopie électronique à transmission, en se concentrant sur les principes et les applications de la spectroscopie de perte d'énergie électronique.
