Couvre la micro-analyse aux rayons X (XRMA) comparant les techniques d'analyse de la matière avec des faisceaux d'électrons, discutant du volume d'interaction, de l'émission, de la fluorescence et des effets matriciels.
Explore les exceptions au principe Aufbau dans le tableau périodique, en mettant l'accent sur les configurations électroniques et leur impact sur les propriétés chimiques.
